集成电路故障检测系统研发团队

团队简介：

团队现有7名成员，分别毕业于中国科学院大学、南京大学、东南大学等，其中博士7人，高级职称4人。研发团队围绕集成电路与系统的测试和故障检测及优化展开研究，对服务于南京市区域集成电路产业发展，逐步实现集成电路测试方案和故障诊断技术的自主化，有着重要的社会应用价值。

服务内容：

团队可为集成电路、半导体等相关企业提供集成电路故障检测、失效分析等方向的项目研发、技术服务等。

负责人简介：

刘飞，男，博士，副教授，毕业于中国科学院大学微电子学与固体电子学专业，南京大学博士后、访问学者。现为电子科学与技术系专任教师。研究方向为半导体光电器件设计、制造及应用。主要讲授混合信号测试、电子工艺实习等课程。以第一作者身份发表SCI论文六篇，EI论文三篇，授权专利四项，授权软件著作权六项，主持和参与多项纵横向项目。多次指导学生获得全国大学生电子设计竞赛、全国大学生集成电路创新创业大赛等奖项。

联系方式：

负责人：刘飞 副教授

联系电话：18168092356